Microscopia Eletrônica de Varredura

Introdução
Um microscópio eletrônico de varredura (MEV) usa um feixe focal de elétrons para criar uma imagem ampliada de uma amostra. O feixe de elétrons é digitalizado regularmente em toda a superfície da amostra e os elétrons que saem da amostra são usados ​​para criar a imagem.

Essencialmente, a maneira como o microscópio eletrônico de varredura "olha" para a superfície de uma amostra pode ser comparada a uma pessoa sozinha em um quarto escuro, usando uma tocha de feixe fino para procurar objetos na parede. Ao escanear a tocha sistematicamente de um lado para o outro e gradualmente se movendo pela parede, a pessoa pode criar uma imagem dos objetos em sua memória. O SEM usa um feixe de elétrons em vez de uma tocha, um detector de elétrons em vez de olhos e uma tela e câmera como memória.

Os elétrons são partículas carregadas negativamente dentro do átomo. Em um microscópio óptico, os fótons de luz são focalizados por lentes de vidro. Em um microscópio eletrônico, os eletroímãs são usados ​​para focalizar os elétrons. A interação do feixe de elétrons com a superfície da amostra afeta as imagens que obtemos.

O SEM é uma ferramenta para a criação de imagens dos mundos do microespaço invisíveis (1 micrômetro = 10-6m) e nanoespaço (1 nanômetro = 10-9m). Os SEMs podem ampliar um objeto de 10 a 300.000 vezes. Uma barra de escala geralmente é fornecida em uma imagem SEM. A barra de escala é usada para calcular os tamanhos dos recursos na imagem. Os microscopistas ainda costumam usar o termo 'mícron'. Um mícron é a palavra antiga (não SI) para um micrômetro.

As imagens SEM não têm cor (mas podem ser coloridas artificialmente), podem parecer tridimensionais (devido à profundidade de campo) e mostram apenas a superfície da amostra (devido à penetração mínima do feixe de elétrons na amostra).